Guzei D.V., Minakov A.V., Rudyak V.Ya. Numerical simulation of a forced convection laminar fluid flow with regard for the thermodiffusion of nanoparticles in it // Journal of Engineering Physics and Thermophysics. - 2022. - Vol. 95, iss. 2. - P. 516-526. DOI; РИНЦ (Гузей Д.В., Минаков А.В., Рудяк В.Я. Численное моделирование вынужденной конвекции наножидкости при ее ламинарном течении с учетом термодиффузии // Инженерно-физический журнал. – 2022. – Т. 95, № 2. – C. 526-536. DOI; РИНЦ)
Savvinova N.A., Sleptsov S.D. Numerical study of radiative-conductive heat exchange in a ice layer under radiation heating // AIP Conference Proceedings. - 2022. - Vol. 2528. - 020012. - 4 p. DOI
Emelyanov A. A., Pinaev V. A., Plotnikov M.Yu, Rebrov A.K., Timoshenko N.I., Yudin I.B. Optical and gas-dynamic measurements in a microwave discharge plasma flow under conditions of gas-jet synthesis of diamond // Journal of Applied Mechanics and Technical Physics. - 2022. - Vol. 63. - P. 418–424. DOI; РИНЦ (Емельянов А.А., Пинаев В.А., Плотников М.Ю., Ребров А.К., Тимошенко Н.И., Юдин И.Б. Оптические и газодинамические измерения в потоке плазмы СВЧ разряда в условиях газоструйного синтеза алмаза // Прикладная механика и техническая физика. – 2022. – Т. 63, №3. – С. 54-61. DOI; РИНЦ)
Dvoynishnikov S.V., Meledin V.G., Kabardin I.K., Rakhmanov V.V., Zuev V.O. Phase triangulation method with statistical filtering for measurements at random additive interference with a limited dynamic range of a photodetector // Measurement Techniques. - 2022. - Vol. 65, iss. 6. - P. 426–431. DOI; РИНЦ (Двойнишников С.В., Меледин В.Г., Кабардин И.К., Рахманов В.В., Зуев В.О. Метод фазовой триангуляции со статистической фильтрацией для измерений в условиях случайных аддитивных помех и ограниченного динамического диапазона фотоприёмника // Измерительная техника. – 2022. – № 6. – С. 36–40. DOI; РИНЦ)
Volodin V.A., Krivyakin G.K., Bulgakov A.V., Levy Y., Beránek J.,NagisettyS., Bryknar Z., Bulgakova N.M., Geydt P.V., Popov A.A. Picosecond infrared laser crystallization of Ge layers in Ge/Si multi-nanolayers for optoelectronic applications // Proceedings of SPIE. - 2022. - Vol. 12157. - 1215702. - 10 p. DOI; РИНЦ