Измеритель профиля поверхности "3D-статик"

Предназначен для измерения трехмерной геометрии объекта бесконтактными оптическими методами на  основе структурированного освещения. Принцип работы основан на формировании в измерительном объеме структурированной засветки и наблюдении фотоприемником с направления, отличного от направления освещения. Наблюдаемые искажения структурированной засветки кодируют информацию о дальности до объекта.

Основные возможности:
• измерение трехмерной геометрии объекта и сохранение результата в виде облака трехмерных точек;
• обработка экспериментальных данных:отображение, фильтрация трехмерных точек, восстановление полигональной поверхности объекта, анализ 2D-профиля поверхности объекта;
• диагностика и анализ деформации поверхности объекта.

Основные технические характеристики:
• минимальный измерительный объем — 0.01×0.01×0.01 м3;
• максимальный измерительный объем — 3.0×3.0×2.0 м³;
• минимальное время одного замера — 5 сек.;
• погрешность измерения (относительно размеров измерительного объема) — 0.1%;
• ресурс работы — 50 000 часов.

Область применения:
Ветроэнергетика, гидроэнергетика, авиационная промышленность, медицина, горячая металлургия, фенотипирование морфологических признаков растений, контроль разрушения композитных конструкций.

Отличительные особенности:
• прецизионный контроль трехмерной геометрии объекта;
• возможность измерений в условиях преломления оптических сигналов;
• возможность диагностики и анализа различных видов деформации поверхности объекта;
• возможность подключения нескольких измерительных модулей и измерения трехмерной геометрии всей поверхности объекта в единой системе координат;
• возможность проведения серии измерений с запуском по таймеру.

Реализация: промышленный образец

Контактная информация:
Центр трансфера технологий ИТ СО РАН
Руководитель ЦТТ, д.э.н. Перепечко Людмила Николаевна
Тел.: +7 (383) 335-65-46, e-mail: perepechko@itp.nsc.ru